Archiwa tagu: profilowania skanera

Ważna aktualizacja i1Profiler ? 1.4.2 wspiera profilowanie skanera.

Ważna aktualizacja i1Profiler ? 1.4.2 wspiera profilowanie skanera.

W nowej wersji i1profiler, X-Rite wraca do możliwości profilowania skanera. Głosy klientów zostały wysłuchane. Moduł do profilowania skanera dostępny jest w wersji Photo Pro 2 oraz Publish Pro 2. Posiadacze wcześniejszej wersji spektrofotometru i1Pro, także mogą cieszyć się nowym modułem.

Pozytywną informację jest fakt, że nowy moduł obsługuje wzorzec ColorChecker 24. Dodatkowe wzorce to między innymi: ColorChecker SG oraz wzorce IT8 różnych producentów.

Oprogramowanie ?podpowiada? w jakiej rozdzielczości najlepiej przygotować zeskanowane wzorce, i tak dla tablic refleksyjnych ? 200ppi, transparentnych 4×5 ? 300 ppi, transparentnych 35mm ? 800ppi, ColorChecker 24 i SG ? 150 ppi lub więcej. Zeskanowany obraz musi być zapisany w pliku TIFF.

Wskazówka: Moduł do profilowania skanera można wykorzystać jako moduł do profilowania aparatów cyfrowych, wystarczy zrobić zdjęcie wzorca (koniecznie RAW i eksportować do TIFF-a) w odpowiednich warunkach oświetleniowych. Zaletą tej metody jest uzyskanie profilu ICC a nie jak w przypadku ColorChecker Passport, profilu DNG.

i1Profiler w wersji 1.4.2 do pobrania na stronie producenta: http://www.xrite.com/product_overview.aspx?ID=1397&Action=support&SoftwareID=1244